CNS 10926-1987《光纤组件检验法–未涂层光纤外径测量法》
本标准规定无外被光纤两端外径之测量方法。此项外径对于系统之连接器及终端设计与性极为重要。此方法不适用于制造进行中过程控制之连续直径测量,但可用于测量不绝对圆的外径。
标准信息:
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- 中文名称:光纤组件检验法--未涂层光纤外径测量法
- 英文名称:Method of test for fiber optic devices (measuring outside (uncoated) diameter of optical waveg
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:33.180.01
- 中国标准分类:M33
- 标准前缀:CNS
- 标准状态:现行
- 发布日期:1984-06-13
- 废止日期:无
- 实施日期:1987-06-18
- 页数:4 页
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