CNS 12114-1987《金属镀层与金属氧化层用横断面显微镜式厚度测定法》

标准信息：

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  2. 中文名称：金属镀层与金属氧化层用横断面显微镜式厚度测定法
  3. 英文名称：Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopic Examination of A Cross Section
  4. 标准分类：产品方法标准
  5. 国际标准分类：25.220.40
  6. 中国标准分类：A29
  7. 标准前缀：CNS
  8. 标准状态：现行
  9. 发布日期：1987-09-17
  10. 废止日期：无
  11. 实施日期：1987-09-17
  12. 页数：3 页

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