CNS 12865-3-1991《数字微电子检验法(低位准输入电流)》

本标准规定数字微电子组件之低阶输入负载,可能是最小值(IIL min),也可能是最大值(IIL max )确保电路性能于相关采购文化所规定之限度内。例如 TTL、DTL、RTL、ECL 和 MOS。

标准信息:

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  2. 中文名称:数字微电子检验法(低位准输入电流)
  3. 英文名称:Method of Test for Digital Microelectronics ( Low Level Input Current )
  4. 国际标准分类:31.200
  5. 标准前缀:CNS
  6. 标准状态:现行
  7. 发布日期:1991-05-20
  8. 废止日期:
  9. 实施日期:1991-05-20
  10. 页数:1 页
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