首页 - 规范标准 - - 正文 CNS 12865-3-1991《数字微电子检验法(低位准输入电流)》本标准规定数字微电子组件之低阶输入负载,可能是最小值(IIL min),也可能是最大值(IIL max )确保电路性能于相关采购文化所规定之限度内。例如 TTL、DTL、RTL、ECL 和 MOS。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:数字微电子检验法(低位准输入电流)英文名称:Method of Test for Digital Microelectronics ( Low Level Input Current )国际标准分类:31.200标准前缀:CNS标准状态:现行发布日期:1991-05-20废止日期:无实施日期:1991-05-20页数:1 页 在线预览(点击展开)第1页