CNS 5068-1988《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–焊锡附着性试验》
本标准规定一般使用焊锡所连接的单件半导端子的易焊性之试验方法。
标准信息:
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- 中文名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法--焊锡附着性试验
- 英文名称:Environmental testing methods and endurance testing methods for discrete semiconductor devices
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.080.01
- 中国标准分类:L40
- 标准前缀:CNS
- 标准状态:废止
- 发布日期:1979-12-21
- 废止日期:无
- 实施日期:1988-06-14
- 页数:1 页
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