CNS 5544-1988《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–场效电晶体断续动作试验》
本标准规定场效晶体管于断续通电之情况下,因导通与切断相当于晶体管温度上升与下降,达到评估场效晶体管之电气及机械耐久性之试验方法。
标准信息:
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- 中文名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法--场效电晶体断续动作试验
- 英文名称:Environmental testing methods and endurance testing methods for discrete semiconductor devices
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:19.040
- 中国标准分类:L44
- 标准前缀:CNS
- 标准状态:废止
- 发布日期:1980-05-24
- 废止日期:无
- 实施日期:1988-09-14
- 页数:1 页
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