CNS 5544-1988《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–场效电晶体断续动作试验》

本标准规定场效晶体管于断续通电之情况下,因导通与切断相当于晶体管温度上升与下降,达到评估场效晶体管之电气及机械耐久性之试验方法。

标准信息:

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  2. 中文名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法--场效电晶体断续动作试验
  3. 英文名称:Environmental testing methods and endurance testing methods for discrete semiconductor devices
  4. 标准分类:产品方法标准
  5. 国际标准分类:19.040
  6. 中国标准分类:L44
  7. 标准前缀:CNS
  8. 标准状态:废止
  9. 发布日期:1980-05-24
  10. 废止日期:
  11. 实施日期:1988-09-14
  12. 页数:1 页
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