CNS 5546-1988《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–场效电晶体高温逆向偏压试验》
本标准定义协议实作符合性声明(Protocol Implementtation Conformance Statement,简称PICS)一览表(Proforma),以因应「开放系统互连一档案转送、存取及管理」符合性需求的细部表达。此PICS 一览表符合相关需求并遵循「开放系统互连–符合性测试方法与架构–第二部份:抽象测
标准信息:
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- 中文名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法--场效电晶体高温逆向偏压试验
- 英文名称:Environmental testing methods and endurance testing methods for discrete semiconductor devices
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:19.040
- 中国标准分类:L44
- 标准前缀:CNS
- 标准状态:废止
- 发布日期:1980-05-24
- 废止日期:无
- 实施日期:1988-09-14
- 页数:1 页
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