CNS 8292-1982《自含熔剂合金喷敷》

本标准规定半导体逻辑闸微电路噪声界限之测试程序（包括单石（Monolithic）、多基片（Multichip）、薄膜（Film）或原膜并合微电路（Hybrid Micrccircuits），如「微电子工程」CNS _ 所列）。