DIN 41850-2-1985《膜集成电路；材料；导线糊剂的评定方法》

The standard describes those procedures, which are necessary to assess the ability and reliability of conductive pastes to be used for integrated film circuits. The testing of the characteristics of the pastes occurs by means of a test substrat, the dimensions and the layout of which are laid down as well.

标准信息：

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  2. 中文名称：膜集成电路；材料；导线糊剂的评定方法
  3. 英文名称：Film and hybrid integrated circuits; materials, methods for the assessment of conductive pastes
  4. 国际标准分类：31.200
  5. 中国标准分类：L57
  6. 标准前缀：DIN
  7. 标准状态：现行
  8. 发布单位：DE-DIN
  9. 发布日期：1985-09-01
  10. 废止日期：无
  11. 实施日期：无
  12. 页数：6 页