首页 - 规范标准 - - 正文 DIN 41850-4-1976《膜集成电路;材料;电阻糊剂的评定方法》Integrated film circuits; material, methods for judgement of thick film resistor compositions标准信息:免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:膜集成电路;材料;电阻糊剂的评定方法英文名称:Integrated film circuits; material, methods for judgement of thick film resistor compositions国际标准分类:31.200中国标准分类:L57标准前缀:DIN标准状态:现行发布单位:DE-DIN发布日期:1976-01-01废止日期:无实施日期:无页数:3 页