EJ/T 1184-2005《贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定》
本标准规定了分光光度法测定品贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。
本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。
当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10~120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
标准信息:
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- 中文名称:贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
- 英文名称:Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:27.120.30
- 中国标准分类:F46
- 标准前缀:EJ
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-EJ
- 发布日期:2005-04-01
- 废止日期:无
- 实施日期:2005-07-01
- 页数:5 页
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