EJ/T 1184-2005《贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定》

本标准规定了分光光度法测定品贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。
本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。
当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10~120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。

标准信息:

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  2. 中文名称:贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
  3. 英文名称:Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
  4. 标准分类:产品方法标准
  5. 国际标准分类:27.120.30
  6. 中国标准分类:F46
  7. 标准前缀:EJ
  8. 标准状态:现行
  9. 发布单位:CN-EJ
  10. 发布日期:2005-04-01
  11. 废止日期:
  12. 实施日期:2005-07-01
  13. 页数:5 页
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