GB/T 12085.13-2010《光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》

本部分规定了污染试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1）(以下称试剂)同光学仪器的接触。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本部分不适用于作为正常的生产控制。
本试验目的是研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材料短时间内暴露在试剂中的抵抗能力。
试验通常只用于在使用期有可能遭受污染的仪器选择材料或元件时参考。 1) 不包括放射性元素和同位素及危险性化学物质如2，2—二氧二乙硫醚。