GB/T 14028-1992《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理。
标准信息:
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- 中文名称:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
- 英文名称:General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
- 标准分类:通用基础标准
- 国际标准分类:31.200
- 中国标准分类:L55
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:1992-12-18
- 废止日期:无
- 实施日期:1993-08-01
- 页数:19 页
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