GB/T 14620-1993《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。

标准信息:

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  2. 中文名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  3. 英文名称:Alumina ceramic substrates for thin film integratedcircuits
  4. 标准分类:产品基础标准
  5. 国际标准分类:31.200
  6. 中国标准分类:L92
  7. 标准前缀:GB/T
  8. 标准状态:废止
  9. 发布单位:CN-GB
  10. 发布日期:1993-09-03
  11. 废止日期:2014-04-15
  12. 实施日期:1993-12-01
  13. 页数:7 页
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