GB/T 14849.10-2016《工业硅化学分析方法第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法》

GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010 %-0.001 0 %。
　　

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中文名称：工业硅化学分析方法第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法
英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10：Determination of mercury content—Atomic fluor
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：77.120.10
中国标准分类：H12
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：2016-08-29
废止日期：无
实施日期：2017-07-01
页数：8 页