GB/T 15651.3-2003《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》
本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。
标准信息:
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- 中文名称:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 英文名称:Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring m
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.260
- 中国标准分类:L50
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:2003-11-24
- 废止日期:无
- 实施日期:2004-08-01
- 页数:27 页
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