首页 - 规范标准 - 产品方法标准 - 正文 GB/T 16594-2008《微米级长度的扫描电镜测量方法通则》本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的通用原则。适用于测量(0.5-10)μm 的长度。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:微米级长度的扫描电镜测量方法通则英文名称:General rules for measuremnt of length in micron scale by SEM标准分类:产品方法标准国际标准分类:17.040.99中国标准分类:N53标准前缀:GB/T标准状态:现行发布单位:CN-GB发布日期:2008-09-18废止日期:无实施日期:2009-05-01页数:18 页 引用了下列标准(点击展开)JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》JJG 550-1988《扫描电子显微镜试行检定规程》 代替了下列标准(点击展开)GB/T 16594-1996《微米级长度的扫描电镜测量方法》 被下列标准引用(点击展开)JC/T 2151-2012《陶瓷晶须形貌质量检测方法》JC/T 2150-2012《钛酸钾(钠)陶瓷晶须》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页