GB/T 17444-2013《红外焦平面阵列参数测试方法》
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
标准信息:
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- 中文名称:红外焦平面阵列参数测试方法
- 英文名称:Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
- 标准分类:通用基础标准
- 国际标准分类:31.260
- 中国标准分类:L52
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2013-11-12
- 废止日期:无
- 实施日期:2014-04-15
- 页数:27 页
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