GB/T 17554.3-2006《识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备》
本部分定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法,该方法与GB/T 16649给出的定义相适应。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T 14916,也可以是一个或多个定义了应用在识别卡应用的信息存储技术的补充标准。
本部分只定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法;GB/T 17554.1定义了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则定义了各个专项技术的测试方法。
本部分中描述的若干测试方法可单独进行。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。本部分中规定的测试方法基于GB/T 16649中的定义。
采用本部分中描述的测试方法确认合格的集成电路卡(ICC)和接口设备(IFD),不排除在实际使用时出现失效。本部分不包含可靠性测试的内容。
标准信息:
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- 中文名称:识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
- 英文名称:Identification cards--Test methods--Part 3:Integrated circuit(s) cards with contacts and related dev
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:35.240.15
- 中国标准分类:L64
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:2006-03-14
- 废止日期:无
- 实施日期:2006-07-01
- 页数:52 页
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