GB/T 17626.21-2014《电磁兼容 试验和测量技术 混波室试验方法》

GB/T 17626的本部分考虑在混波室中的电气和/或电子设备的抗扰度试验、有意或无意辐射发射试验和屏蔽效能试验。本部分建立了实施这些试验所需的试验程序。本部分仅考虑辐射现象。
本部分的目的是建立一个使用混波室评估电气和/或电子设备在射频电磁场中的性能和确定电气电子设备的辐射发射等级的通用规范。
本部分的目的不是规定适用于特定设备或系统的试验方法，而是为所有相关的产品委员会提供通用的参考基准。产品委员会应咨询全国无线电干扰标准化技术委员会或全国电磁兼容标准化技术委员会选择辐射发射限值和试验方法。由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值，也可以采用诸如IEC 61000-4-3、CISPR 16-2-3和CISPR 16-2-4等标准中的其他方法。