首页 - 规范标准 - 产品基础标准 - 正文 GB/T 20307-2006《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》 本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm~500nm的点或线的间距。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:纳米级长度的扫描电镜测量方法通则英文名称:General rules for nanometer-scale length measurement by SEM标准分类:产品基础标准国际标准分类:37.020中国标准分类:N33标准前缀:GB/T标准状态:现行发布单位:CN-GB发布日期:2006-07-19废止日期:无实施日期:2007-02-01页数:17 页 引用了下列标准(点击展开)JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》 被下列标准引用(点击展开)SJ/T 11471-2014《发光二极管外延片测试方法》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页