GB/T 20724-2006《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10<上标 -9>m~×10<上标 -3>m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
标准信息:
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- 中文名称:薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 英文名称:Method of thickness measurement for thin rystal by convergent beam electron diffraction
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:71.040.99
- 中国标准分类:N53
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:2006-12-25
- 废止日期:无
- 实施日期:2007-08-01
- 页数:7 页
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