GB/T 32651-2016《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》
本标准规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的方法。
本标准适用于太阳能级硅材料中痕量元素的测定,其中铁(Fe)、铬(Cr)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(zn)、硼(B)、磷(P)、钙(Ca)、钠(Na)、镁(Mg)、铝(A1)、砷(As)、(Sc)、(Ti)、钒(v)、锰(Mn)、钻(C。)、(Ga)等元素的测定范围为5 μg/kg~50mg/kg。本方法适用于分析多种物理形态的以及添加任何种类和浓度掺杂剂的硅材料,例如多晶硅粉末、颗粒、块、锭、片和单晶硅棒、块、片等。
标准信息:
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- 中文名称:采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
- 英文名称:Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:29.045
- 中国标准分类:H82
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
- 发布日期:2016-04-25
- 废止日期:无
- 实施日期:2016-11-01
- 页数:12 页
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