首页 - 规范标准 - 通用基础标准 - 正文 GB/T 3358.2-2009《统计学词汇及符号 第2部分:应用统计》 GB/T 3358的本部分定义了应用统计术语,并用与ISO术语规范实践相一致的概念进行表述,规定了术语的标准符号和缩略语。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:统计学词汇及符号 第2部分:应用统计英文名称:Statistics-Vocabulary and symbols-Part 2:Applied statistics标准分类:通用基础标准国际标准分类:03.120.30中国标准分类:A41标准前缀:GB/T标准状态:现行发布单位:CN-GB发布日期:2009-10-15废止日期:无实施日期:2010-02-01页数:81 页 代替了下列标准(点击展开)GB/T 3358.2-1993《统计学术语 第二部分:统计质量控制术语》 被下列标准引用(点击展开)DB53/T 497-2013《烟草及烟草制品 主要化学成分指标 近红外校正模型建立与验证导则》GB/T 18149-2017《离心泵、混流泵和轴流泵 水力性能试验规范 精密级》GB/T 6378-2002《不合格品率的计量抽样检验程序及图表(适用于连续批的检验)》SC/T 3016-2004《水产品抽样方法》QB/T 1187-2010《鞋类 检验规则及标志、包装、运输、贮存》JJF 1005-2016《标准物质通用术语和定义》JB/T 11909-2014《农用万向节传动轴》JB/T 12022-2014《过程控制仪表的可靠性要求与考核方法》JB/T 12021.1-2014《智能仪表可靠性试验与评估 第1部分:通用导则》GB/Z 31233-2014《分立个体类产品随机抽样实施指南》GB/T 8055-2009《数据的统计处理和解释 Г分布(皮尔逊Ⅲ型分布)的参数估计》GB/T 4885-2009《正态分布完全样本可靠度置信下限》GB/T 4087-2009《数据的统计处理和解释 二项分布可靠度单侧置信下限》GB/T 3359-2009《数据的统计处理和解释 统计容忍区间的确定》GB/T 32464-2015《化学分析实验室内部质量控制 利用控制图核查分析系统》GB/T 30642-2014《食品抽样检验通用导则》GB/T 30891-2014《水产品抽样规范》GB/T 30083-2013《铜、铅和锌矿及精矿 计量方法的精密度和偏差》GB/T 28863-2012《商品质量监督抽样检验程序 具有先验质量信息的情形》GB/T 2828.5-2011《计数抽样检验程序. 第5部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统》GB/T 2828.1-2012《计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划》GB/T 2828.10-2010《计数抽样检验程序 第10部分:GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则》GB/T 28043-2011《利用实验室间比对进行能力验证的统计方法》GB/T 27408-2010《实验室质量控制 非标准测试方法的有效性评价 线性关系》GB/T 27407-2010《实验室质量控制 利用统计质量保证和控制图技术 评价分析测量系统的性能》GB/T 26823-2011《基于信用原则控制检出质量的零接收数计数抽样检验系统》GB/T 26315-2010《市场、民意和社会调查 术语》GB/T 24176-2009《金属材料 疲劳试验 数据统计方案与分析方法》GB/T 22555-2010《散料验收抽样检验程序和抽样方案》GB/T 22554-2010《基于标准样品的线性校准》GB/T 20001.4-2015《标准编写规则 第4部分:试验方法标准》GB/T 17989-2000《控制图 通则和导引》GB/T 15214-2008《超声诊断设备可靠性试验要求和方法》GB/T 13732-2009《粒度均匀散料抽样检验通则》GB/T 12609-2005《电沉积金属覆盖层和有关精饰 计数检验抽样程序》GB/T 10094-2009《正态分布分位数与变异系数的置信限》GB/T 10093-2009《概率极限状态设计(正态-正态模式)》GB/T 10092-2009《数据的统计处理和解释 测试结果的多重比较》EJ/T 1204.4-2006《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第4部分:忽略样品处理影响的线性标度模拟率表测量》EJ/T 1204.3-2006《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量》EJ/T 1204.2-2006《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量》EJ/T 1204.1-2006《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页