GB/T 4589.1-2006《半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范》
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。
本规范是半导体器件(分立器件和集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。
本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则:
——电特性测试方法;
——气候和机械试验;
——耐久性试验。
标准信息:
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- 中文名称:半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
- 英文名称:Semiconductor devices--Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits
- 标准分类:通用基础标准
- 国际标准分类:31.080.01
- 中国标准分类:L40
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:2006-10-10
- 废止日期:无
- 实施日期:2007-02-01
- 页数:35 页
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