GB/T 4937.3-2012《半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检》

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

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中文名称：半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：31.080.01
中国标准分类：L40
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：2012-11-05
废止日期：无
实施日期：2013-02-15
页数：6 页