GB/T 5594.6-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法》
本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。 标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。
标准信息:
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- 中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
- 英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chem
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.030
- 中国标准分类:L32
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:废止
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:1985-11-27
- 废止日期:2016-01-01
- 实施日期:1986-12-01
- 页数:2 页
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