首页 - 规范标准 - - 正文 GB 3440-1982《半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理》标准信息:免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理英文名称:中国标准分类:L56标准前缀:GB标准状态:废止发布日期:无废止日期:无实施日期:1983-10-01页数:16 页 被下列标准代替(点击展开)SJ 50597.3-1994《半导体集成电路JH009、JH2010型HTL与非门详细规范》 被下列标准引用(点击展开)QJ 3048-1998《元器件检测站测试软件开发规范》SJ 50597.3-1994《半导体集成电路JH009、JH2010型HTL与非门详细规范》SJ 50597.2-1994《半导体集成电路JH2014型HTL触发器详细规范》