首页 - 规范标准 - - 正文 GB 3442-1986《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》标准信息:免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理英文名称:中国标准分类:L56标准前缀:GB标准状态:废止发布日期:无废止日期:无实施日期:1987-07-01页数:33 页 被下列标准代替(点击展开)SJ 20296-1993《半导体集成电路JF2500、JF2520型高转换速率运算放大器详细规范》 被下列标准引用(点击展开)QJ 3048-1998《元器件检测站测试软件开发规范》SJ 50597.5-1994《半导体集成电路JF725、JF725A型高精度运算放大器详细规范》SJ 20296-1993《半导体集成电路JF2500、JF2520型高转换速率运算放大器详细规范》SJ 50597/24-1994《半导体集成电路JF3140、JF3140A型BiMOS高输入阻抗运算放大器详细规范》SJ 50597/21-1994《半导体集成电路JADC1001型通用8位二进制输出A/D转换器详细规范》SJ 50597/14-1994《混合微电路详细规范HSH91型精密双采样/保持放大器》SJ 50597/13-1994《混合微电路详细规范HSH4860型高速精密采样/保持放大器》