首页 - 规范标准 - - 正文 GB/T 14141-1993《硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法》标准信息:免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法英文名称:无国际标准分类:29.040.30中国标准分类:H81标准前缀:GB/T标准状态:废止发布日期:1993-02-06废止日期:2010-06-01实施日期:1993-10-01页数:6 页 被下列标准代替(点击展开)GB/T 14141-2009《硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法》