GB/T 35003-2018《非易失性存储器耐久和数据保持试验方法》
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。br />本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。
标准信息:
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- 中文名称:非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
- 英文名称:Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.200
- 中国标准分类:L56
- 标准前缀:GB/T
- 标准语言:中文
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2018-03-15
- 废止日期:无
- 实施日期:2018-08-01
- 页数:12 页
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