GB/T 35007-2018《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,low voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。br />本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
标准信息:
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- 中文名称:半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 英文名称:Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.200
- 中国标准分类:L56
- 标准前缀:GB/T
- 标准语言:中文
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2018-03-15
- 废止日期:无
- 实施日期:2018-08-01
- 页数:40 页
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