GB/T 36474-2018《半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法》

本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM）功能验证和电参数测试的方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试。

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中文名称：半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuit- Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory (DDR3 SDRAM)
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：31.200
中国标准分类：L56
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-06-07
废止日期：无
实施日期：2019-01-01
页数：20 页