GB/T 4937.11-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法》

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。
本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。
本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。
本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准信息：

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  2. 中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
  3. 英文名称：Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods--Part 11:Rapid change of temperature--Two-fluid-bath method
  4. 标准分类：产品方法标准
  5. 国际标准分类：31.080.01
  6. 中国标准分类：L40
  7. 标准前缀：GB/T
  8. 标准状态：现行
  9. 发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
  10. 发布日期：2018-09-17
  11. 废止日期：无
  12. 实施日期：2019-01-01
  13. 页数：8 页

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