GB/T 4937.12-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动》
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
标准信息:
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- 中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
- 英文名称:Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods- Part 12: Vibration, variable frequency
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.080.01
- 中国标准分类:L40
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2018-09-17
- 废止日期:无
- 实施日期:2019-01-01
- 页数:8 页
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