GB/T 4937.13-2018《半导体器件机械和气候试验方法第13部分:盐雾》

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

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中文名称：半导体器件机械和气候试验方法第13部分:盐雾
英文名称：Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods--Part 13:Salt atmosphere
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：31.080.01
中国标准分类：L40
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-09-17
废止日期：无
实施日期：2019-01-01
页数：8 页