首页 - 规范标准 - - 正文 HS/T 4-2006《有机表面处理的二氧化硅的鉴定方法》本标准规定了经有机表面处理二氧化硅的分析步骤和判定方法。 本标准适用于经有机表面处理二氧化硅的鉴定。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:有机表面处理的二氧化硅的鉴定方法英文名称:Identification of surface treatment of silicon dioxide with organic materials国际标准分类:71.040.40中国标准分类:G10标准前缀:HS/T标准状态:现行发布单位:CN-HS发布日期:2007-03-28废止日期:无实施日期:2007-04-01页数:6 页 引用了下列标准(点击展开)GB/T 6040-2002《红外光谱分析方法通则》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页