首页 - 规范标准 - 完整的产品标准 - 正文 JB/T 10030-1999《光栅线位移测量系统》 本标准规定了光栅线位移测量系统的基本参数、技术要求和试验方法。 本标准适用于分辨率为0.1~10μm的测量系统。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:光栅线位移测量系统英文名称:Grating linear displacement measuring system标准分类:完整的产品标准国际标准分类:25.060.20中国标准分类:J42标准前缀:JB/T标准状态:废止发布单位:CN-JB发布日期:1999-05-20废止日期:2012-11-01实施日期:2000-01-01页数:12 页 引用了下列标准(点击展开)JB/T 6214-1992《仪器仪表可靠性验证试验及测定试验(指数分布)导则》GB/T 6587.2-1986《电子测量仪器 温度试验》GB/T 6388-1986《运输包装收发货标志》 被下列标准代替(点击展开)JB/T 10030-2012《光栅线位移测量装置 》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页