首页 - 规范标准 - 完整的产品标准 - 正文 JB/T 5482-2004《X射线晶体定向仪 技术条件》 本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:X射线晶体定向仪 技术条件英文名称:The specification for X-ray crystal orientation apparatus标准分类:完整的产品标准国际标准分类:17.180.99中国标准分类:N33标准前缀:JB/T标准状态:废止发布单位:CN-JB发布日期:2004-06-17废止日期:2012-04-01实施日期:2004-11-01页数:8 页 代替了下列标准(点击展开)JB/T 5482-1991《X射线定向仪技术条件》 被下列标准代替(点击展开)JB/T 5482-2011《X射线晶体定向仪》 被下列标准引用(点击展开)JJF 1256-2010《X射线单晶体定向仪校准规范 》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页