JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷 测量方法》

本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法、测量步骤、检验规则及时试验报告的要求。 本标准适用于静电复印感光体(硒鼓、硫化镉鼓、有机光导体鼓、无定型硅鼓、氧化锌版等)的外观质量及背景印迹检查,对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用。

标准信息:

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  2. 中文名称:静电复印感光体表面缺陷 测量方法
  3. 英文名称:Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
  4. 国际标准分类:37.100.20
  5. 中国标准分类:N47
  6. 标准前缀:JB/T
  7. 标准状态:废止
  8. 发布单位:CN-JB
  9. 发布日期:1999-08-06
  10. 废止日期:2015-10-01
  11. 实施日期:2000-01-01
  12. 页数:5 页
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