JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷 测量方法》
本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法、测量步骤、检验规则及时试验报告的要求。 本标准适用于静电复印感光体(硒鼓、硫化镉鼓、有机光导体鼓、无定型硅鼓、氧化锌版等)的外观质量及背景印迹检查,对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用。
标准信息:
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- 中文名称:静电复印感光体表面缺陷 测量方法
- 英文名称:Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
- 国际标准分类:37.100.20
- 中国标准分类:N47
- 标准前缀:JB/T
- 标准状态:废止
- 发布单位:CN-JB
- 发布日期:1999-08-06
- 废止日期:2015-10-01
- 实施日期:2000-01-01
- 页数:5 页
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