首页 - 规范标准 - 产品方法标准 - 正文 JB/T 13686-2019《光栅编码器 加速寿命试验方法》本标准规定了光栅编码器的加速寿命试验方法的术语和定义、加速寿命试验方法、寿命评估。本标准适用于光栅编码器(以下简称编码器)的加速寿命试验。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:光栅编码器 加速寿命试验方法英文名称:Grating encoders--Accelerated life tests methods标准分类:产品方法标准国际标准分类:17.040.30中国标准分类:J42标准前缀:JB/T标准状态:现行发布单位:中华人民共和国工业和信息化部发布日期:2019-08-27废止日期:无实施日期:2020-04-01页数:8 页 引用了下列标准(点击展开)GB/T 5080.1-2012《可靠性试验 第1部分:试验条件和统计检验原理》GB/T 2689.1-1981《恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页