JIS B7440-7-2015《产品几何量技术规范(GPS)–坐标测量机(CMM)的验收和复检–第7部分：装备成像探测系统的坐标测量机》

この規格は，画像プローブシステムをもっ座標測定機の性能の受入検査及び定期検査にっいて規定する。
この規格で規定する受入検査及び定期検査は，離散点プロービングモードで動作するあらゆる形式の画
f八像プローブシステムをもっ直交形座標測定機だけに適用する。
この規格は，次の座標測定機には適用しない。
一非直交形座標測定機（ただし，受渡当事者間の合意によってこの規格を非直交形座標測定機に適用
してもよい。）
ー画像プローブ以外の光学式プローブを用いる座標測定機（ただし，受渡当事者間の合意によってこ
の規格を画像プローブ以外の光学式座標測定機に適用してもよい。）
ーJIS B7440－2で規定する接触式プロービングシステムをもっ座標測定機JIS B7440規格群では，座標測定機の製造業者又は使用者が指定する性能要求事項を規定しており，受
入検査及び定期検査での要求事項及び合否判定の基準並びにそれらの検査で使用され得るアプリケーションにっいて記載している。