JIS C1805-1-2001《程序测试控制器性能评价的一般方法及顺序–第1部分:一般性的考察》

この規格は，プロ七ス計測制御機器の機能及び性能に関する試験の実施と報告のための，一般的な方法と手順を規定する。この規格に規定された方法と手順は，いずれの種類の試験又はいずれのタィプのプロセス計測制御機器にも適用できる。各試験は固有の入力変量及び出力変量並びに入力/出力関係〔伝達関数)によって特性付けられるいずれの機器にも適用でき.アナログ機器もディジタル機器も含まれる。特別な試験が必要な機器に対しては，この規格は，特別な試験を規定したその製品固有の規格と合わせて使用しなければならない。JlS C 1805のこの部は.この規格全体に適用ずる一般的原則について述べている。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。