JIS C5401-1-2015《电子设备连接器–第1部分:总规范》
この規格は、電子及び電気機器に用いるコネク夕に関する通則的事項及び技術情報について規定する。
ただし,高周波同軸コネクタには適用しない。
标准信息:
- JIS C5402-8-2-2016《电子设备用连接器–试验和测量–第8-2部分:静态载荷试验(固定连接器) 试验8b:轴向静态载荷》
- JIS C5402-22-1-2016《电子设备连接器–测试和测量–第22-1部分:电容测试–测试22a:电容》
- JIS C5402-12-5-2016《电子设备连接器–测试和测量–第12-5部分:焊接测试–测试12e:焊接耐热性试验,烙铁法》
- JIS C5402-12-4-2016《
电子设备用接头–试验和测量–第12-4部分:钎焊试验–试验12d:抗钎焊执度、金属熔化浴法》 - JIS C5402-12-2-2016《电子设备用接头–试验和测量–第12-2部分:钎焊试验–试验12b:可钎焊性、湿平衡、钎焊铁法》
- JIS C5402-12-1-2016《电子设备连接器–测试和测量–第12-1部分:焊接测试–测试12a:可焊性、润湿焊浴方法》
- JIS Z8203-2000《国际单位制(SI)及其用法》
- JIS C60068-1-1993《环境试验方法–电气,电子–通则》
- JIS B0401-2-1998《公差与配合的方式–第2部分:孔及轴的公差等级及尺寸允许偏差表》
- JIS B0401-1-1998《尺寸公差与配合的方式–第1部分:公差,尺寸差及配合的基础》
- JIS Z8317-1-2008《技术制图-尺寸记载方法–一般原则,定义,记载方法及特殊的指定方法》
- JIS C5402-9-1-2016《 电子设备用连接器–试验和测量–第9-1部分:耐久性试验–试验9a:机械操作》
- JIS C5402-8-3-2016《 电子设备用连接器–试验和测量–第8-3部分:静态载荷试验(固定连接器)–试验8c:起动杆的坚固性》
- JIS C5402-8-1-2016《电子设备连接器–试验和测量–第8-1部分:静态负载测试(固定连接器)–测试8A:静载荷,横向》
- JIS C5402-7-1-2016《电子设备连接器–试验和测量–第7-1部分:撞击试验(自由连接器)–测试7A:自由落体(重复)》
- JIS C5402-6-4-2005《电子设备连接器-试验和测量-第6-4:动力压力试验-试验6d:振动》
- JIS C5402-6-3-2005《电子设备连接器-试验和测量-第6-3部分:动力压力试验-试验6c:振动》
- JIS C5402-6-2-2005《电子设备连接器-试验和测量-第6-2部分:动力压力试验-试验6b:撞击》
- JIS C5402-6-1-2005《电子设备连接器-试验和测量-第6-1部分:动力压力试验-6a试验:加速度,稳定状态》
- JIS C5402-5-2-2005《电子设备连接器-试验和测量-第5-2部分:当前容量试验-5b试验:当前温度减少额定值》
- JIS C5402-5-1-2005《电子设备连接器-试验和测量-第5-1部分:当前携带容量试验-试验5a:升温》
- JIS C5402-4-3-2005《电子设备连接器-试验和测量-第4-3部分:电压试验-试验4c:预绝缘卷曲鼓电压试验》
- JIS C5402-4-2-2005《电子设备连接器-试验和测量-第4-2部分:电压试验-试验4b:局部放电》
- JIS C5402-4-1-2005《电气设备连接器-试验和测量-第4-1部分:电压压力试验-4a试验:电压试验》
- JIS C5402-3-1-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第3-1部分:一般试验–试验3a:绝缘电阻》
- JIS C5402-2-6-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第2-6部分:一般试验–试验2f:外壳电连续性》
- JIS C5402-2-5-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第2-5部分:一般试验–试验2e:接触电阻的接触干扰》
- JIS C5402-23-4-2006《电子设备用连接器–试验和测量–第23-4部分:屏蔽试验和滤波试验.试验23d:时域中的传输线反射》
- JIS C5402-23-3-2005《电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第23-3部分:试验23c:连接件和附件的屏蔽效应》
- JIS C5402-2-3-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第2-3部分:一般试验–试验2c:接触电阻的变动》
- JIS C5402-2-2-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第2-1部分:一般试验–试验2a:接触电阻–规定电流法》
- JIS C5402-2-1-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第2-1部分:一般试验–试验2a:接触电阻–毫伏法》
- JIS C5402-20-2-2005《电子设备用机电元件–基本试验程序和测量方法–第20-2部分:试验20b.易燃性试验.防火性》
- JIS C5402-1992《电子设备用接插件试验方法》
- JIS C5402-19-3-2002《电子设备连接器–试验和测量–第19-3部分:耐化学物质试验.试验19c: 耐流体》
- JIS C5402-17-4-2015《电子设备用连接器–试验和测量–第17-4部分:电缆夹紧试验–试验17d:电缆夹抗电缆扭转》
- JIS C5402-17-2-2015《电子设备用连接器–试验和测量–第17-2部分:电缆夹紧试验–试验17b:电缆夹抗电缆转动》
- JIS C5402-17-1-2015《电子设备用连接器–试验和测量–第17-1部分:电缆夹紧试验–试验17a:电缆夹的坚固性》
- JIS C5402-16-9-2015《电子设备用连接器–试验和测量–第16-9部分:接触件及引出端机械试验–试验16i:接地接触件的弹簧自持力》
- JIS C5402-16-8-2015《电子设备连接器–试验和测量–第16-8部分:触点和终端的机械试验–测试16H:绝缘夹具的有效性(压接连接)》
- JIS C5402-16-6-2014《电子设备用连接件–试验和测量–第16-6部分:接触件及引出端机械试验–试验16f:引出端的坚固性》
- JIS C5402-16-3-2014《电子设备用连接件–试验和测量–第16-3部分:接触件及引出端机械试验–试验16c:接触件抗弯强度》
- JIS C5402-16-20-2002《电子设备连接器–试验和测量–第16-20部分:接触点和终端的机械试验.试验16t:机械强度(无钎焊连接的电线连接终端)》
- JIS C5402-16-13-2015《电子设备用连接器–试验和测量–第16-13部分:接触件及引出端机械试验–试验16m:打开缠绕、无焊绕接》
- JIS C5402-16-1-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第16-1部分:接触点和终端的机械试验–试验16a:探针故障》
- JIS C5402-15-8-2002《电子设备连接器.试验和测量.第15-8部分:连接器试验(机械的).试验15h:触电限动系统的耐工具使用性》
- JIS C5402-15-6-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第15-6部分:连接器试验(机械的)–试验15f:连接器接合装置的有效性》
- JIS C5402-15-5-2014《电子设备用连接器–试验和测试–第15-5部分:连接器试验(机械的)–试验15e:电缆章动的插入件触点稳固性 》
- JIS C5402-15-4-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第15-4部分:连接器试验(机械的)–试验15d:触点插入力、断开力和拨出力》
- JIS C5402-15-3-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第15-3部分:连接器试验(机械的)–试验15c:壳体中插入件稳固性(扭转)》
- JIS C5402-15-2-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第15-2部分:连接器试验(机械的)–试验15b:壳体中插入件稳固性(轴向)》
- JIS C5402-15-1-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第15-1部分:连接器试验(机械的)–试验15a:插入件触点稳固性》
- JIS C5402-14-7-2002《电子设备连接器.试验和测量.第14-7部分:密封试验.试验14g:水冲击试验》
- JIS C5402-14-6-2016《 电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第14-6 部分:密封试验–试验14f:界面密封性能》
- JIS C5402-14-5-2016《 电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第14-5 部分:密封试验–试验14e:低压防水性能》
- JIS C5402-14-4-2016《电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第14-4 部分:密封试验–试验14d:密封–防水性能》
- JIS C5402-14-2-2016《 电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第14-2部分:密封试验–试验14b:密封–纯泄量》
- JIS C5402-1-4-2002《电子设备用接插件–试验及测定–第1-4部分:一般试验–试验1d:接触保护效果(防碰擦)》
- JIS C5402-13-5-2014《电子设备用电机元件–基本试验程序和测量方法–第13-5部分:机械操作试验–试验13e:偏振和键控法》
- JIS C5402-1-3-2002《电子设备用接插件–试验及测定–第1-3部分:一般试验–试验1c:电气接触长度》
- JIS C5402-13-1-2015《电子设备用连接器-试验及测定-第13-1部分:机械操作试验-试验13a:结合力和脱离力》
- JIS C5402-12-7-2005《电子设备用连接器.试验和测量.第12-7部分:锡焊试验.试验12g:湿润平衡法测定可焊性》
- JIS C5402-12-6-2002《电子设备连接器–试验和测量–第12-6部分:钎焊试验.试验12f:机器钎焊时连接件密封耐焊剂和清洗剂性能》
- JIS C5402-1-2-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第1-2部分:一般试验–试验1b:尺寸及重量》
- JIS C5402-1-2002《电子设备用接插件–试验及测定–第1部分:通则》
- JIS C5402-11-9-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-9部分:气候试验.试验11i:高温》
- JIS C5402-11-8-2002《电子设备连接器-试验和测量-第11-8部分:气候试验.试验11h:沙尘》
- JIS C5402-11-7-2006《电子设备连接器-试验和测量-第11-7部分:气候试验.试验11g: 流动混合气体腐蚀试验》
- JIS C5402-11-6-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-6部分:气候试验.试验11f:盐雾腐蚀》
- JIS C5402-11-5-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-4部分:气候试验-11e:霉菌生长》
- JIS C5402-11-4-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-4部分:气候试验-试验11d:温度快速变化》
- JIS C5402-11-3-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-3部分:气候试验-试验11c:湿热,稳定状态》
- JIS C5402-11-2-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第11-2部分:一般试验–试验3a:绝缘电阻》
- JIS C5402-1-1-2005《电子设备用接插件–试验及测定–第1-1部分:一般试验–试验1a:外观》
- JIS C5402-11-14-2006《电子设备连接器-试验和测量-第11-14部分:气候试验.试验11p:流动的单一气体腐蚀试验》
- JIS C5402-11-13-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-13部分:气候试验.试验11n:无钎焊包装连接的气密性》
- JIS C5402-11-12-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-12部分:气候试验.试验11m:循环湿热》
- JIS C5402-11-1-2002《电子设备连接器.试验和测量.第11-1部分:气候试验.试验11a:气候顺序》
- JIS C5402-11-11-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压》
- JIS C5402-11-10-2005《电子设备连接器-试验和测量-第11-10部分:气候试验.试验11j:低温》
- JIS C5402-1-100-2014《电子设备用连接器–试验和测量–第1-100部分:总则–适用出版物》
- JIS C5402-10-4-2006《电子设备连接器-试验和测量-第10-4部分:冲击试验,静载荷试验,抗磨度试验,超负荷试验-10D试验:电气超负荷》
- JIS B0621-1984《几何公差的定义及表示方法》
- JIS B0031-2003《表面特征标注方法》