JIS R1693-1-2012《精细陶瓷和陶瓷基复合材料发射率的测量方法–第1部分：使用红外光谱仪黑体参考法测量光谱正常发射率》
标准信息：
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- 中文名称：精细陶瓷和陶瓷基复合材料发射率的测量方法--第1部分：使用红外光谱仪黑体参考法测量光谱正常发射率
- 英文名称：Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites -- Part 1: Normal s
- 国际标准分类：81.060.10
- 中国标准分类：Q32
- 标准语言：ja
- 标准状态：现行
- 发布日期：2012-06-20
- 废止日期：无
- 实施日期：2012-06-20
- 页数：24 页