首页 - 规范标准 - 产品基础标准 - 正文 JJF 1179-2007《集成电路高温动态老化系统校准规范》本规范适用于集成电路高温动态老化系统的校准。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:集成电路高温动态老化系统校准规范英文名称:Calibration Specification of High Temperature Dynamic IC Burn-in System标准分类:产品基础标准国际标准分类:17.220中国标准分类:A56标准前缀:JJF标准状态:现行发布单位:CN-JJF发布日期:2007-06-14废止日期:无实施日期:2007-09-14页数:15 页 引用了下列标准(点击展开)GB/T 5170.2-1996《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备》GB/T 5170.1-1995《电工电子产品环境试验设备 基本参数检定方法 总则》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页