首页 - 规范标准 - 产品基础标准 - 正文 JJF 1916-2021《扫描电子显微镜校准规范》本规范适用于扫描电子显微镜的校准。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:扫描电子显微镜校准规范英文名称:Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)标准分类:产品基础标准国际标准分类:17.040中国标准分类:A61标准前缀:JJF标准状态:现行发布单位:国家市场监督管理总局发布日期:2021-07-28废止日期:无实施日期:2022-01-28页数:16 页 引用了下列标准(点击展开)JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》GB/T 20307-2006《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》 代替了下列标准(点击展开)JJG 550-1988《扫描电子显微镜试行检定规程》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页