首页 - 规范标准 - 产品基础标准 - 正文 JJG 77-2006《干涉显微镜检定规程》本规程适用于双光束干涉显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:干涉显微镜检定规程英文名称:Verification Regulation of Interference Microscope标准分类:产品基础标准国际标准分类:11.040中国标准分类:A52标准前缀:JJG标准状态:现行发布单位:CN-JJG发布日期:2006-05-23废止日期:无实施日期:2006-11-23页数:21 页 引用了下列标准(点击展开)JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》JJG 812-1993《干涉滤光片》JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》 代替了下列标准(点击展开)JJG 77-1983《干涉显微镜检定规程》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页