首页 - 规范标准 - 产品基础标准 - 正文 JJG 989-2004《光栅式测微仪检定规程》本规程适用于分辨力为0.01μm~1μm,测量范围至100mm的光栅式测微仪的首次检定、后续检定和使用中的检验。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:光栅式测微仪检定规程英文名称:Grating Micrometers标准分类:产品基础标准国际标准分类:17.040中国标准分类:A52标准前缀:JJG标准状态:现行发布单位:国家质量监督检验检疫总局发布日期:2004-09-21废止日期:无实施日期:2004-12-21页数:23 页 引用了下列标准(点击展开)JB/T 10080.2-2000《光栅线位移传感器》JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页