JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》
本标准规定了扫描电子显微镜(scanning electron microscope,以下简称扫描电镜或 SEM)的分析方法原理、环境条件指标、仪器、样品、分析测试、结果报告、仪器维护和安全注意事项。br />本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌、微区成分和结构分析等。
标准信息:
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本标准规定了扫描电子显微镜(scanning electron microscope,以下简称扫描电镜或 SEM)的分析方法原理、环境条件指标、仪器、样品、分析测试、结果报告、仪器维护和安全注意事项。br />本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌、微区成分和结构分析等。
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