SJ 20842-2002《砷化镓表面镓砷比的测试方法》
木标准规定了砷化镓材料表面镓砷比的x射线光电子能谱的试验方法。 本标准适用于监测砷化镓器件制造过程中表面处理对砷化镓晶片表面镓砷比的影响,也适用于晶片加工中的各种表面处理。
标准信息:
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- 中文名称:砷化镓表面镓砷比的测试方法
- 英文名称:Test method for Ga/As ratio of surface of gallium arsenide
- 标准分类:产品方法标准
- 中国标准分类:H83
- 标准前缀:SJ
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国信息产业部
- 发布日期:2002-10-30
- 废止日期:无
- 实施日期:2003-03-01
- 页数:5 页
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